薄膜量測分析儀(TIM-10/30TFV )是一套簡易探頭式光譜量測系統，整合光源和光譜儀於一體，只需透過USB連接即可完成設置。利用光譜儀量測樣品反射/穿透光譜訊號，來分析確定透明膜或半透明膜的膜厚和光學常數，透過自行開發的量測與分析軟體i-Spec，將專業薄膜技術融入簡單而直觀的系統中，使操作人員只需要幾分鐘教學即可使用儀器。模組化的系統整合，可快速獲取準確的量測結果，易於應用於產線檢測，並根據客戶需求客製設計和規劃In-line光譜和膜厚量測系統。