晶圓級半自動薄膜量測分析儀 (TIM-10STFV-R )系列是一款高性能的膜厚檢測儀器，專門設計用於精確測量薄膜和塗層的厚度。這款儀器在半導體、光學、表面工程及材料科學等領域有著廣泛的應用。透過電控R-Theta移動平台，它能夠迅速有效地測量並建立薄膜厚度分布；用戶可以便捷地選擇極座標、矩形或線性等多種佈點模式，並可直接使用內建的多種佈點設置。搭配結合控制、測量和分析功能於一體的i-Spec軟體，讓專業薄膜技術與簡潔直觀的操作界面得以結合。此系統的設置簡便，透過 USB 連接即可在幾分鐘內完成，使得操作人員僅需短暫培訓即也簡化操作程，可輕鬆上手使用此儀器，不僅提升了工作效率，使TIM-10STFV-R成為市場上最具使用便利性和技術先進性的薄膜厚度測量工具之一。