橢偏儀推薦兆鈞光學！

專業光學量測儀器，提升薄膜分析準確度

兆鈞光學推出【反射光譜式橢圓偏振儀（TIM-10EPV）】，結合反射式光譜儀與橢偏儀功能，不僅具備傳統橢圓偏振的分析能力，更導入反射式光譜量測概念，大幅提升資料的完整性與準確性。
操作介面設計更直覺，有效降低使用者對經驗值的依賴，幫助快速掌握材料的物理模型與薄膜光學特性，縮短分析時程，提高研究效率。
若您正在尋找高穩定性、高效率的橢偏儀設備，兆鈞光學是您值得信賴的合作夥伴，歡迎聯絡我們了解更多應用細節與技術規格！
 

橢偏儀適用領域

半導體製程監控、光學鍍膜分析、材料物性研究、教育單位實驗室
 

橢偏儀量測特點

✓ 高精準度橢偏量測
✓ 搭載反射光譜技術
✓ 降低操作誤差與人為干擾
✓ 協助建構物理模型與材料光學參數