膜厚量測儀推薦兆鈞光學！

專為薄膜分析打造的模組化量測系統

兆鈞光學推出【薄膜量測分析儀（TIM-10/30TFV）】，整合光源與光譜儀於一體，僅需 USB 連接即可快速部署，是一款操作簡易、功能齊全的膜厚量測儀。
本系統透過量測樣品的反射光與穿透光光譜，搭配自研的 i-Spec 分析軟體，能準確計算出透明膜與半透明膜的膜厚與光學常數，協助使用者快速完成精密薄膜分析，降低操作門檻，大幅提升工作效率。
模組化設計不僅提升量測彈性，也支援客製化應用，適用於研究實驗、品質控管與產線即時檢測需求。
 

產品特色

✓ 一體式設計，USB 即插即用
✓ 支援反射/穿透雙模式薄膜分析
✓ 可量測膜厚、折射率、消光係數等參數
✓ i-Spec 軟體介面直覺、支援快速演算
✓ 可整合In-line產線膜厚量測應用
 

應用場景

光學鍍膜製程監控、AR/IR鍍膜檢測、光學濾片開發、學術研究、顯示器材料分析
兆鈞光學提供專業的膜厚量測儀與薄膜分析解決方案，若您有更多量測與系統整合需求，歡迎與我們聯繫，讓我們協助您打造專屬的光學量測平台！
 

*取決於材料
**量測1000 nm SiO₂ on Si標準片的1σ (量測100次)